Capacidades do Analisador de Rede Vetorial (VNA) + Refletômetro no Domínio do Tempo (TDR)

WavePulser 40iX O analisador de interconexão de alta velocidade fornece uma visão de caracterização inigualável nos domínios de frequência e tempo com uma única aquisição.

  • Mede parâmetros S (como um VNA)
  • Mede o perfil de impedância (como um TDR)
  • Desincorporação avançada de acordo com o padrão IEEE 370-2020
  • Emulação e simulação de canais de dados seriais de alta velocidade
  • Sem calibração necessária
  • Custa uma fração do preço de um VNA
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WavePulser 40iX analisador de interconexão de alta velocidade realizando medições de parâmetros s do analisador de rede vetorial (VNA), como medições de perda de retorno e perda de inserção, em uma placa de circuito

Insight de caracterização incomparável

Gráfico representativo de modo misto e parâmetros S de perda de retorno e inserção

Medições do parâmetro S

Obtenha uma caracterização completa do caminho do sinal em uma aquisição:

  • Faixa de frequência DC a 40 GHz
  • Parâmetros S de modo simples e misto
  • Medir perda de retorno, perda de inserção
  • A calibração interna e automática economiza tempo e problemas
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Gráfico representativo do perfil de impedância gerado usando um reflectômetro no domínio do tempo (TDR) para medir a transmissão no domínio do tempo (TDT)

Medições de perfil de impedância

Localize com precisão as deficiências no circuito:

  • Resolução espacial do perfil de impedância < 1 mm
  • Perfis de impedância diferencial e de modo comum
  • Capacidade TDR e TDT
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Iconografia que descreve o WavePulser 40iX Capacidades do analisador de interconexão de alta velocidade para executar a desintegração usando parâmetros S e medir o jitter e os diagramas de olho

Desincorporação (IEEE 370-2020), Simulação, Emulação

WavePulser 40iX O software fornece análise e modelagem fáceis de interconexões e circuitos com sua caixa de ferramentas profunda:

  • Suporte para 2x-Thru, 1x-Reflect-Short, 1x-Reflect-Open
  • Suporte para desincorporação in situ (ISD) - 2x-Thru com gating
  • Diagrama de olho com emulação equalizada e análise avançada de jitter.
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Teste nos domínios de frequência e tempo

WavePulser 40iX O analisador de interconexão de alta velocidade é a ferramenta de medição única e ideal para projetistas de hardware e engenheiros de teste de alta velocidade, com todos os recursos e capacidades que faltam nos analisadores de rede vetorial (VNA) e nos refletômetros de domínio de tempo (TDR). Faça uma aquisição e meça nos domínios da frequência e do tempo.

Iconografia descrevendo como o WavePulser 40iX pode medir tanto no domínio do tempo (perfis de impedância, como um refletômetro no domínio do tempo) quanto no domínio da frequência (parâmetros S, como um analisador de rede vetorial) e realizar a desintegração para análise de diagrama de olho e jitter

Projetado para análise de interconexão de alta velocidade

WavePulser 40iX valida, depura e soluciona problemas de interconectividade em cabos de dados seriais, canais, conectores, vias, backplanes, placas de circuito impresso e pacotes de chip e SoC. É simples de configurar e usar. Ele fornece os mesmos resultados que um analisador de rede por uma fração do preço.

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Calibração interna e automática

WavePulser 40iX os padrões de calibração são integrados, portanto a calibração é sempre automatizada, simples e rápida. Compare com um analisador de rede vetorial que requer a compra de padrões de calibração externos adicionais e requer conexão manual para calibração. A abordagem baseada em TDR/TDT também é independente da configuração, tornando a calibração menos frequente.

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Faixa completa DC a 40 GHz

WavePulser 40iX oferece resposta de etapa do reflectômetro de domínio do tempo (TDR) e respostas de camada física com controle de tempo e/ou emulação sem necessidade de extrapolação para DC e baixas frequências - ideal para análise de interconexão de dados seriais de alta velocidade.

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Medições de parâmetros S

WavePulser 40iX O analisador de interconexão de alta velocidade mede parâmetros S de modo único e misto a partir de uma aquisição. Altere as configurações e recalcule os resultados sem precisar readquirir novos dados.

Imagem de tela mostrando uma aquisição única com todos os parâmetros s de modo misto, retorno e perdas de inserção para todas as portas

Medições de parâmetros S de modo misto

Uma aquisição exibe todos os resultados de medição: retorno de modo misto e perdas de inserção para todas as portas; medições de modo diferencial e modo comum; Resposta de frequência DC. Uma interface gráfica de usuário tabular torna os resultados de leitura simples.

Configuração de análise de rede simples e flexível

Uma configuração simples requer que você insira apenas frequências e número de portas para uma aquisição de terminação única. Escolha um tempo de teste otimizado para precisão ou velocidade ou algo intermediário. Reconfigure as portas no software sem reconectar ao DUT. Reordene os parâmetros S no arquivo Touchstone.

Maior precisão com calibração interna

A calibração eletrônica interna permite que as medições comecem mais cedo e sejam feitas com mais confiança. Recursos como passividade, reciprocidade e imposição de causalidade garantem maior precisão de medição de parâmetros S.

Medições de perfil de impedância

WavePulser 40iX O analisador de interconexão de alta velocidade mede perfis de impedância com resolução espacial < 1 mm.

Imagem de tela mostrando um perfil de impedância (Z0 vs comprimento elétrico) para uma interconexão de dados seriais de alta velocidade

Vistas de Perfil de Múltiplas Impedâncias

WavePulser 40iX oferece suporte a medições de perfil de impedância de modo diferencial e de modo misto e pode exibir vários modos simultaneamente. Veja também a resposta ao degrau, a resposta ao pulso e o coeficiente de reflexão.

Localize com precisão as deficiências

Use perfis de impedância para detectar e localizar problemas comuns em interconexões de dados seriais de alta velocidade: conectores apertados incorretamente; cabos danificados; raios de curvatura do cabo incorretos; vias defeituosas em linhas de transmissão; outras irregularidades da linha de transmissão.

Otimizar a eficiência

Os perfis de impedância detectam e localizam deficiências na configuração de medição, não apenas no DUT, ajudando você a trabalhar com mais eficiência. Entenda quando é necessário repetir a calibração e quando não é.

De-incorporação, Simulação, Emulação e Análise de Jitter

WavePulser 40iX O analisador de interconexão de alta velocidade pode ser adquirido junto com o SI Studio (WavePulser-40iX-BUNDLE), uma caixa de ferramentas de análise profunda adaptada para compreender as características de interconexão de dados seriais de alta velocidade. A análise do sinal NRZ está incluída como padrão na compra de WavePulser-40iX-BUNDLE. WAVEPULSER-SISTUDIO-UPG-PAM pode ser adquirido para adicionar capacidade de análise de sinal PAM3 e PAM4 ao SI Studio

Imagem de tela mostrando time-gating, peeling de impedância e desincorporação usando parâmetros S para análise de jitter e diagrama de olho de uma interconexão de dados seriais de alta velocidade

Desincorporação avançada de acordo com o padrão IEEE 370-2020

Elimine os efeitos de dispositivos de teste, cabos e conectores de acordo com o padrão IEEE 370-2020 e melhore a precisão das medições. Suporta os métodos 2x-Thru, 1x-Reflect-Short, 1x-Reflect-Open e desincorporação in-situ (ISD) usando remoção de impedância baseada em TDR ou extensão de porta. Utilize os parâmetros S resultantes nas ferramentas de Diagrama de Olho e Análise de Jitter. (Algumas funcionalidades são opcionais).

Visualizações de diagrama de olho rápido

Importe ou simule formas de onda e use parâmetros S para modelar deficiências. Visualize rapidamente o impacto das deficiências com um diagrama de olho de dados serial intuitivo. Visualize os efeitos de desincorporação e equalização no diagrama de olho. Suporta PLL, pré-ênfase, de-ênfase, CTLE, FFE e DFE.

Análise avançada de jitter

Medir jitter total (Tj), aleatório (Rj) e determinístico (Dj). Deconvolve Dj em partes componentes. Visualize jitter em espectral, histograma, faixa de jitter, diagrama de olho e outros gráficos.

Suporte abrangente ao algoritmo IEEE 370-2020 aumenta a precisão das medições.

Representação do dispositivo de teste padrão IEEE 370-2020 1x-Reflect-Short e 1x-Reflect-Open

1x-Refletor-Curto e 1x-Refletor-Aberto

  • Ideal para todos os testes de montagem de cabos TDR
  • Métodos de correção de impedância fáceis de usar
  • Alta precisão com WavePulser 40iX Tecnologia TDR
Desincorporação 2x-Thru conforme a norma IEEE 370-2020 para caracterização elétrica de placas de circuito impresso e interconexões relacionadas em frequências de até 50 GHz.

2x-Através

  • Cria uma estrutura sem a presença do DUT.
  • Parâmetros S divididos em duas metades iguais – Esquerda e Direita – para uso na desincorporação.
  • Funciona com arquivos de parâmetros S importados ou medidos.
2x-Thru com gating usando um algoritmo de peeling com correção de impedância, consistente com técnicas de desincorporação in situ (ISD).

2x-Thru com Gating (Desincorporação no Local, ou ISD)

  • Ideal para isolar os dispositivos de teste de todos os cabos e conectores.
  • Precisão aprimorada usando algoritmos de descascamento com correção de impedância.
  • Alta precisão com WavePulser 40iX Tecnologia TDR

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