Diagrama ocular de dados seriais de alta velocidade, análise de jitter e ruído

Análise TecnológicaAnálise de Tecnologia
PCIe, USB, DisplayPortPCIe, USB, DisplayPort
Caixa de ferramentasCaixa de ferramentas
Analisar LinksAnalisar Links
ConfiançaConfiança
CompararComparar
RecursosRecursos
Diagrama ocular de análise de dados seriais SDA Expert, histograma de jitter, espectro de jitter e divisão de jitter em jitter total, jitter aleatório e determinístico

Experiência simplificada em dados seriais

O software de análise de dados seriais SDA Expert é o primeiro pacote de análise de diagramas de olho e jitter com conhecimento tecnológico integrado. Ele simplifica a configuração e expande os recursos de depuração com análises tecnológicas personalizadas para PCI Express, USB, DisplayPort e muito mais.

  • Análise de tecnologia personalizada para PCI Express®,USB, Thunderbolt™, DisplayPort®, e mais
  • Caixa de ferramentas de análise de dados seriais mais completa
  • Maior confiança para medições complexas

Experiência simplificada em dados seriais

Primeiro software de dados seriais com conhecimento especializado integrado. Simplifica a configuração e expande os recursos de depuração com uma nova estrutura tecnológica.

Software de análise de dados seriais SDA Expert comparando dois diagramas oculares de USB4 e USB4 medições específicas de jitter em uma interface USB-Type-C

Análise tecnológica personalizada para PCI Express, USB, DisplayPort e muito mais.

  • A experiência em medição específica da tecnologia é incorporada
  • Faça uma transição perfeita da conformidade para a depuração
  • A seleção intuitiva de medições economiza tempo e evita erros
Saiba Mais
Análise de dados seriais SDA Expert Diagrama ocular NRZ, histograma de jitter, trilha de jitter, FFT de jitter e medições aleatórias, determinísticas e de jitter total

Caixa de ferramentas de análise de dados seriais mais completa

  • O conjunto de ferramentas de 4ª geração abrange todas as necessidades para sinais NRZ e PAM.
  • Integra tudo: jitter, ruído, diafonia, equalização e resposta ao pulso.
  • Suporte exclusivo para múltiplas visualizações com modos de referência e comparação.
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Análise de dados seriais SDA Expert comparando diagrama de quatro olhos e cenários de jitter com desincorporação de um canal e usando equalizador CTLE, DFE e FFE

Maior confiança para medições complexas

  • A configuração com um botão economiza tempo de configuração e evita erros
  • A seleção de tecnologias simplifica a configuração de medições complexas.
  • Documente resultados e salve dados rapidamente com o gerador de relatórios integrado.
Saiba Mais

Análise tecnológica personalizada para PCI Express, USB, DisplayPort e muito mais.

A estrutura tecnológica SDA Expert fornece todas as ferramentas específicas para cada tecnologia, permitindo uma depuração fácil e rápida fora do contexto de testes de conformidade.

Software de análise de dados seriais SDA Expert mostrando um exemplo de estrutura de tecnologia para PCIe Gen6
Funções dedicadas integradas de depuração e medição do SDA Expert mostradas para USB no menu de seleção de tecnologia
SDA Expert incorporou uma seleção de pontos de teste para padrões como USB3.2, USB4, Thunderbolt, PCIe e DisplayPort para fácil análise de link
O software de análise de dados seriais SDA Expert mostra o diagrama ocular do sinal PCIe Gen6 junto com o parâmetro de medição específico do PCIe Gen6 e a resposta ao degrau

Acelere a depuração com a estrutura tecnológica SDA Expert da Teledyne LeCroy. Obtenha todas as análises de depuração de que precisa, geralmente disponíveis apenas em pacotes de conformidade.

  • Design baseado em tecnologia de especialistas em tecnologia
  • Fácil de configurar e pronto para usar
  • Otimizado para depuração fora dos testes de conformidade

Basta selecionar a tecnologia que está sendo testada e você verá as medições específicas dessa tecnologia, rotuladas conforme descrito no documento de norma tecnológica e atendendo aos requisitos específicos da norma.

  • Estrutura tecnológica predefinida com opções adicionais simplifica a configuração de medições.
  • Beneficie-se da experiência integrada
  • Obtenha todas as ferramentas que você precisa para sua aplicação

Com o SDA Expert, a análise de dados seriais fornece todas as ferramentas necessárias para medir os pontos de teste definidos nas normas, mesmo que esses pontos de teste e/ou o canal não estejam fisicamente presentes.

  • Visualização gráfica dinâmica da configuração do canal e do ponto de teste
  • Pontos de teste predefinidos simplificam a configuração e evitam erros
  • Incorporação/desincorporação e equalização integradas

Muitas normas possuem parâmetros de medição e requisitos de análise específicos. Com o SDA Expert Serial Data Analysis, você obtém tudo isso em uma única ferramenta otimizada para depuração.

  • Cumprir as especificações das normas
  • Otimizado para depuração
  • A seleção simples de medições economiza tempo e evita erros

Estrutura tecnológica para USB 3.2, USB4, ThunderboltPCI Express, DisplayPort, Ethernet 50G/100G

A Teledyne LeCroy integrou décadas de experiência com padrões da indústria no software de análise de dados seriais SDA Expert. Leve seus resultados para o próximo nível com a nova estrutura tecnológica.

Software SDA Expert Serial Data Analysis mostrando USB3.2. diagrama ocular, jitter e parâmetro do diagrama ocular medido em uma interface do tipo USB-C
Software SDA Expert Serial Data Analysis mostrando USB4. diagrama ocular, jitter e parâmetro do diagrama ocular medido em uma interface do tipo USB-C
Software SDA Expert Serial Data Analysis mostrando DisplayPort. diagrama ocular, jitter e parâmetro do diagrama ocular medido em uma interface do tipo USB-C
Histograma de transição SDA Expert PCIe 6.0 incluindo divisão de jitter como Rj, udjdd, utj, dj e tj
Diagrama de olho PAM50 Ethernet 4G com gráfico de interferência intersimbólica (ISI)

As medições específicas da tecnologia USB-C, definidas nas especificações de teste de conformidade (CTS) do DisplayPort, podem ser acessadas com o toque de um botão no software SDA Expert.

  • Configuração de ponto de teste facilmente configurável
  • Diagrama ocular abrangente, jitter e outras medições USB-C PHY
  • Análise de equalização simples e poderosa
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Medições específicas da tecnologia USB-C definidas no USB4 e Thunderbolt As especificações de teste de conformidade (CTS) podem ser acessadas com um simples toque de botão no software SDA Expert.

  • Configuração de ponto de teste facilmente configurável
  • Diagrama ocular abrangente, jitter e outras medições USB-C PHY
  • Análise de equalização simples e poderosa
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As medições específicas da tecnologia USB-C, definidas nas especificações de teste de conformidade (CTS) do DisplayPort, podem ser acessadas com o toque de um botão no software SDA Expert.

  • Configuração de ponto de teste facilmente configurável
  • Diagrama ocular abrangente, jitter e outras medições USB-C PHY
  • Análise de equalização simples e poderosa
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O PCI Express 6.0 introduz metodologias de medição de jitter específicas para PAM4, tornando o SDA Expert a ferramenta ideal para caracterizar transmissores PCIe.

  • A composição da medição de jitter pode ser analisada dividindo-a nas 48 transições do padrão de medição de jitter 52-UI, nas 12 transições de nível de tensão ou em um único conjunto agregado de medições de jitter.
  • Histograma de transições para cada uma das 48 transições no padrão de medição de jitter 52-UI.
  • Cada um dos 52 resultados da tabela de medição está vinculado ao seu respectivo histograma de transição.
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Realizar a caracterização básica de sinais elétricos Ethernet de 50G/100G.

  • Diagramas e medidas dos olhos, como altura e largura dos olhos
  • Medições de equalização do transmissor (TxEQ)
  • Medições de jitter com recuperação de dados de relógio
  • Medições de relação sinal-ruído e distorção (SNDR) e relação de desajuste de nível (RLM).
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Caixa de ferramentas de análise de dados seriais mais completa

As opções de análise de dados seriais do SDA Expert fornecem todas as ferramentas necessárias para qualquer medição de diagrama de olho NRZ ou PAM, jitter ou ruído em dados seriais de alta velocidade.

Diagrama ocular SDA Expert NRZ, histograma de jitter, trilha de jitter, jitter FFT e jitter aleatório e determinístico junto com parâmetros do diagrama ocular
SDA Expert mostra um diagrama ocular do sinal PAM4 e mede SNDR, RLM juntamente com parâmetros de jitter e diagrama ocular
Exibição do teste de máscara SDA Expert
SDA Expert mostra o ruído como função de trilha, histograma e no domínio da frequência e mede, extrapola e decompõe o ruído vertical
Desincorporação de equipamentos e cabos de teste de TP1 para TP2 ou emulação do canal em TP3 usando parâmetros S e SDA Expert
SDA Expert comparando quatro cenários com diagrama ocular e jitter, incorporando e desincorporando um canal e usando equalizadores CTLE, DFE e FFE

O software SDA Expert Serial Data oferece as opções mais abrangentes de decomposição de jitter NRZ, diagrama de olho e ferramentas de análise, com ferramentas avançadas de integridade de sinal para emulação, desincorporação e simulação de equalização.

  • O conjunto de ferramentas de 4ª geração cobre necessidades completas de sinais NRZ
  • Integra tudo: jitter, ruído, diafonia, equalização e resposta ao pulso.
  • Decomposição e análise abrangente de jitter

A opção de software SDA Expert Serial Data Analysis fornece diagramas de olho PAM3 e PAM4 abrangentes, medições de jitter e ruído para análise de distorções aleatórias, determinísticas e periódicas para cada abertura do diagrama de olho de sinais PAM multiníveis.

  • Análise SNDR e RLM mais completa
  • Ferramentas de visualização poderosas para identificar componentes inesperados de ruído e distorção.
  • Capacidade abrangente de jitter e quebra de ruído

O teste de máscara é uma das ferramentas mais fáceis de usar para analisar a integridade do sinal NRZ. O SDA Expert possui um amplo banco de dados integrado de máscaras e configurações de PLL correspondentes, com a flexibilidade de adicionar suas próprias definições.

  • Mais de 100 padrões predefinidos com máscaras e configurações de PLL.
  • Aprimoramento fácil para máscaras personalizadas ou adição de novos padrões.
  • Configurações flexíveis de PLL, como definição de frequência, JTF ou OJTF

Com o software SDA Expert Serial Data Analysis, você obtém um conjunto completo de ferramentas de medição de ruído vertical e análise de diafonia para uma análise completa de agressor/vítima.

  • Rastreamento de ruído, histograma e espectro, fornecendo informações sobre o ruído vertical.
  • Modo LaneScape Comparison para gerar crosstalk eyes em múltiplas pistas
  • Um gráfico inovador de contorno ocular de diafonia mostra os efeitos do ruído excessivo.

Com o software SDA Expert Serial Data Analysis, caracterize rapidamente todo o percurso do sinal, do transmissor ao receptor, capture formas de onda de alta fidelidade em um ponto de teste conveniente e, em seguida, analise facilmente o sinal em qualquer ponto de interesse.

  • Desincorporar acessórios e cabos de teste
  • Emule perdas de canal do mundo real
  • Emular equalização de transmissor e receptor
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O software SDA Expert Serial Data Analysis, com suas múltiplas visualizações e análise de referência, identifica rapidamente diferenças e acelera a depuração.

  • Use a pista de referência para testes multicenários
  • Meça várias pistas simultaneamente
  • Análise multiponto e multiconfiguração

Maior confiança para medições complexas

A Análise de Dados Seriais Especializada da SDA oferece o mais alto nível de confiabilidade, ao mesmo tempo que é simplificada para maior simplicidade e facilidade de uso.

Configure o software SDA Expert Serial Data Analysis com desincorporação e equalização usando um botão em vez de usar um assistente complexo
Funções dedicadas integradas de depuração e medição do SDA Expert que podem ser facilmente abordadas pelo menu de seleção de tecnologia
O software SDA Expert Serial Data Analysis possui função de relatório integrada para salvar configuração, dados brutos e relatórios para todos os tipos de jitter e análise de dados seriais em sinais NRZ e PAM com o toque de um botão
Software SDA Expert Serial Data Analysis interface gráfica de usuário simplificada

Confie na experiência do software de análise de dados seriais SDA Expert e utilize a operação com um único botão em vez de se debater com assistentes.

  • Configuração com um botão em vez de assistentes complexos
  • Otimizado para economizar tempo de configuração
  • Mostrar as visualizações de jitter e diagramas oculares mais relevantes

Aproveite o conhecimento especializado do software de análise de dados seriais SDA Expert e inicie sua análise com apenas alguns cliques.

  • A estrutura de tecnologias predefinidas simplifica a configuração
  • Beneficie-se da experiência integrada
  • Obtenha todas as ferramentas que você precisa para sua aplicação

Com a função de relatório do software SDA Expert Serial Data Analysis, salve seus dados para análises futuras e gere relatórios completos com o toque de um botão.

  • Salve dados, configure e crie um relatório ao mesmo tempo
  • Os dados armazenados foram analisados ​​posteriormente, dentro do escopo ou offline, usando o MAUI Studio.
  • Crie um relatório contendo todas as configurações relevantes, bem como uma captura de tela informativa.

Acompanhe as configurações e economize tempo com a interface gráfica do usuário (IU) otimizada e simplificada, com ícones autoexplicativos. Obtenha informações úteis sobre configurações ausentes ou incorretas por meio das informações de status.

  • Os ícones simplificam a localização da função necessária
  • A interface gráfica simplificada ajuda na ordem das configurações
  • As barras de status fornecem informações sobre configurações ausentes ou incorretas

Comparação de diagramas de olho e análise de jitter para dados seriais – Teledyne LeCroy, Keysight, Tektronix

O Teledyne LeCroy SDA Expert possui recursos exclusivos específicos para determinadas tecnologias, além de ser intuitivo e fácil de usar. Compare com as opções de software de diagrama de olho de dados seriais e análise de jitter da Keysight e da Tektronix, que exigem a compra de vários itens adicionais para obter a mesma funcionalidade do SDAX-COMPLETE.

NRZ

Diagrama ocular e medida ocular
Medida de jitter, trilha, histograma, espectro
Resposta de pulso e EQ Tx

PAMn

Diagrama ocular e medida ocular
Medida de Jitter, Rastreamento, Histograma
Resposta de pulso, Tx EQ e SNDR

Ruído / Diafonia

Medição de ruído, trilha, histograma, espectro
Sobreposição de diagrama de olho crosstalk

Incorporação / Desincorporação

Incorporação / Desincorporação
Equalizando

Consultar

Visão múltipla
Visualização de referência

Produtividade

Interface gráfica do usuário
Gerador de Relatórios
Configuração automática de ponto de teste

Soluções Específicas de Tecnologia

PCIe 2.0
PCIe 3.0
PCIe 4.0
PCIe 5.0
PCIe 6.0
USB 3.2
USB e Thunderbolt
DisplayPort 1.4
DisplayPort 2.0
Teledyne LeCroy
SDAX-COMPLETO
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE6)
(SDAX-USB32)
(SDAX-USB4-TBT)
(SDAX-DP)
(SDAX-DP)
Keysight
São necessárias várias opções.
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Tektronix
São necessárias várias opções.
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(PAMPCIE6)
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Recursos

Nome do Documento Tipo de Documento  
Folha de dados do especialista SDA

Ficha de dados

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Manual de instruções do software SDA Expert Baixar pdf

manual

Baixar pdf
Configurando o operador SSCTrack para demodulação de clock de espectro espalhado de dados seriais

Esta nota de aplicação descreve como configurar as definições do operador matemático SSCTrack para realizar a demodulação de clock de espectro espalhado de formas de onda de dados seriais.

Nota do aplicativo

Baixar pdf

Série de webinars da Jitter University

Confuso sobre jitter? A explicação de alguém sobre jitter gerou mais dúvidas do que respostas? Se sim, junte-se à Teledyne LeCroy enquanto ensinamos tudo sobre jitter – o que é jitter, diferentes categorias, instrumentos utilizados, medições e visualizações, deconvolução e extrapolação, e muito mais.

Inscreva-se para tudo
Parte 1 - Introdução ao Jitter

Nesta sessão, apresentamos definições e categorias básicas de jitter, descrevemos os tipos de instrumentos usados ​​historicamente e atualmente para medir jitter, bem como os pontos fortes e fracos dos instrumentos de medição de jitter.

Parte 2 – Aprendendo sobre jitter na borda

Nesta sessão, ilustramos exemplos de medição de jitter usando aquisições compostas por uma ou duas bordas. Diversas técnicas de medição são descritas, juntamente com seus antecedentes históricos. O impacto do instrumento na precisão da medição de jitter também é discutido.

Parte 3 – Uma visão de longo prazo do nervosismo

Nesta sessão, aproveitaremos o uso de osciloscópios digitais modernos para realizar medições de jitter com mais rapidez e precisão. Também calcularemos estatísticas, visualizaremos histogramas em conjuntos de dados e observaremos como o jitter varia com o tempo ou a frequência para melhor compreender as patologias subjacentes ao jitter.

Parte 4 – Exemplos práticos de depuração e medição de jitter

Nesta sessão, apresentamos a análise espectral de jitter como uma ferramenta de depuração e fornecemos outros exemplos práticos de uso de ferramentas de análise estatística e de domínio do tempo no osciloscópio para descobrir a causa raiz dos problemas de jitter.

Parte 5 – Fundamentos das Medições de Jitter em Dados Seriais

Nesta sessão, apresentamos definições e categorias básicas de jitter, descrevemos os tipos de instrumentos usados ​​historicamente e atualmente para medir jitter, bem como os pontos fortes e fracos dos instrumentos de medição de jitter.

Parte 6 – Separação, extrapolação e visualizações de jitter de dados seriais

Nesta sessão, descrevemos o que é a variação total (jitter) para uma determinada taxa de erro de bit (Tj@BER) e como ela é derivada de medições de erro de intervalo de tempo (TIE) usando modelos de extrapolação. A separação entre jitter aleatório (Rj) e determinístico (Dj) é explicada, com uma explicação mais detalhada da separação de Dj em jitter dependente de dados (DDj), distorção do ciclo de trabalho (DCD), interferência intersimbólica (ISI), jitter não correlacionado limitado (BUj) e jitter periódico (Pj), com exemplos fornecidos.

Parte 7 – Curso Avançado sobre Medições de Jitter em Dados Seriais

Nesta sessão, vamos explorar mais a fundo as diversas perspectivas de jitter medidas e extrapoladas, e explicar as visões estatísticas e variáveis ​​no tempo do jitter nas margens do enlace de dados serial, conforme visualizadas em um diagrama de olho.

Como desincorporar e emular links de dados seriais usando osciloscópios

Participe do curso da Teledyne LeCroy para aprender sobre as diversas técnicas de desincorporação e incorporação/emulação de osciloscópios para links de dados seriais de alta velocidade, interconexões e canais, além de pontas de prova para osciloscópios. Abordaremos os vários tipos de ferramentas comumente disponíveis em osciloscópios de alta largura de banda, como desincorporação e emulação, utilizando arquivos de medição de parâmetros S ou modelos de circuito.

Como desincorporar elementos de interconexão nos domínios da frequência e do tempo

Junte-se à Teledyne LeCroy enquanto descrevemos e demonstramos as melhores práticas para remover componentes de teste, cabos e sondas das medições de integridade de sinal, incluindo as de enlace de dados seriais. Este é um processo crucial para garantir que as medições de integridade de sinal do dispositivo sob teste (DUT) não sejam contaminadas pelos elementos de interconexão.

Integridade de sinal em dados seriais de alta velocidade, análise de jitter, desincorporação de sondas

Neste webinar, explicaremos como depurar integridade de sinal de dados seriais de alta velocidade, equalização, medições de jitter, incorporação e desincorporação de interconexões e sondas.

Depuração e análise de dados seriais de alta velocidade

Neste seminário, explicaremos como depurar integridade de sinal de dados seriais de alta velocidade, equalização, medições de jitter, inserção e remoção de interconexões e sondas.

Como acelerar e melhorar os testes e a depuração de transmissores/receptores de dados seriais de 16+ Gb/s

Este webinar fornecerá uma visão geral de um teste típico de transmissor de dados seriais de alta velocidade usando USB4 Como exemplo, sintetizaremos um sinal de dados seriais de alta velocidade, utilizaremos um osciloscópio em tempo real para analisar o sinal em um receptor virtual e compararemos o sinal recebido virtualmente com um sinal real. Analisaremos a margem de integridade do sinal e as medições de jitter, diagrama de olho, contorno IsoBER e diagrama de olho de diafonia.

Webinar sobre os fundamentos da caracterização de interconexões de dados seriais de alta velocidade

Participe do workshop da Teledyne LeCroy para aprender mais sobre o impacto das interconexões seriais de alta velocidade no projeto de seus circuitos. Discutiremos os parâmetros S e os perfis de impedância, como interpretá-los e, em seguida, usaremos arquivos de parâmetros S para gerar diagramas de olho e medições de jitter em um sinal diferencial que passa por um canal de amostragem.

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