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QPHY-PCIe

A solução de teste Teledyne LeCroy QPHY-PCIe fornece controle automatizado para os osciloscópios Teledyne LeCroy para realizar todos os testes da camada física do transmissor, conforme descrito pela especificação eletromecânica do cartão Rev 1.1 e 2.0

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Características principais
  • Em conformidade com a especificação eletromecânica do cartão Rev 1.1 e 2.0
  • Suporte para teste de sistema e cartão adicional
  • As bibliotecas SigTest integradas ao software do osciloscópio permitem a automação dos algoritmos exatos usados ​​para testes de conformidade
  • Os diagramas de conexão exibem a configuração adequada usando as placas de base de conformidade PCI-SIG e as placas de carga de conformidade.
  • A geração de relatórios incorpora asserções de teste CEM para 2.5 Gb/s, 5.0 Gb/s com 3.5 dB de redução de ênfase e 5.0 Gb/s com 6.0 dB de redução de ênfase
  • Teste automatizado simples e fácil de usar

A solução de teste Teledyne LeCroy QPHY-PCIe fornece controle automatizado para os osciloscópios Teledyne LeCroy para realizar todos os testes da camada física do transmissor, conforme descrito pela especificação eletromecânica do cartão Rev 1.1 e 2.0

Os requisitos de teste para placas de sistema e placas complementares são descritos pela especificação. O QPHY-PCIe tem a capacidade de testar a conformidade de acordo com a especificação para placas de sistema e placas complementares.

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Ao integrar as bibliotecas SigTest no software do osciloscópio, o QPHY-PCIe pode automatizar totalmente todos os testes de conformidade necessários usando exatamente os mesmos algoritmos descritos pela especificação.

Além disso, o QPHY-PCIe pode executar todos os testes de 2.5GT/s, depois todos os testes de 5.0GT/s com 3.5dB de redução de ênfase e, finalmente, todos os testes de 5.0Gt/s com 6.0dB de redução de ênfase . Isso permite que o usuário crie um relatório de teste para todas as 3 fases de teste.

Esses recursos tornam o QPHY-PCIe um conjunto de testes automatizados completo que atende aos requisitos de teste de conformidade do transmissor PCI Express de 2.5 GT/s e 5.0 GT/s.

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Bibliotecas SigTest integradas

Ao integrar as bibliotecas SigTest no software do osciloscópio, os algoritmos exatos fornecidos pelo PCI-SIG são usados ​​para calcular os resultados. Isso garante a mesma resposta exata que executar o utilitário SigTest autônomo com o benefício adicional de poder executar esse utilitário de dentro do software do osciloscópio.

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Relatórios de teste abrangentes e fáceis de ler

Os resultados da medição geralmente precisam ser resumidos e tabulados para verificar rapidamente as especificações. Essas informações, juntamente com as configurações de aquisição/condição de teste do instrumento e do sinal, resultam em um registro totalmente documentado. O QPHY-PCIe agiliza esse processo incorporando um mecanismo automático de geração de relatórios em HTML. Os relatórios de teste criados contêm valores numéricos tabulados para cada resultado de teste individual, incluindo PASSA/FALHA e colunas de limite de especificação. Os relatórios também podem ser salvos como PDF, HTML ou XML.

Capacidade de depuração avançada

Se for encontrada uma falha de conformidade, o pacote de análise de dados seriais SDA II da Teledyne LeCroy está disponível para ajudar a encontrar a causa raiz com rapidez e facilidade. O SDA II tem a capacidade de realizar medições de olho e jitter simultaneamente e é totalmente integrado ao software aplicativo do osciloscópio. Além disso, com recursos especializados, como IsoBER, ISI Plot, Pj Inverse FFT e vários modelos de jitter, o SDA II fornece informações sobre os parâmetros Eye e Jitter medidos, facilitando a identificação das origens dos problemas.

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A Eye Doctor II software de análise permite que o usuário visualize seu sinal após Equalização Linear de Tempo Contínuo (CTLE), Equalização Feed Forward (FFE) e/ou Equalização de Feedback de Decisão (DFE). Isso dá ao usuário a capacidade de ver como um receptor real que utiliza equalização interpretaria seu sinal.

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O software de análise SDA II da Teledyne LeCroy contém análise integrada de jitter e temporização para sinais de clock e dados. Ele permite a análise de dados até o limite de memória do osciloscópio e, usando a tecnologia X-Stream II, o SDA II pode exibir diagramas de olho e resultados de decomposição de jitter até 50 vezes mais rápido do que outras soluções. Além disso, o PLL específico para PCI Express é selecionável em uma lista de PLLs pré-configurados. Por fim, o SDA II contém 2 métodos separados para decomposição de jitter; o método espectral padrão da indústria e os métodos de escala NQ. A escala NQ é crítica para distinguir adequadamente entre jitter aleatório e determinístico em sistemas onde há diafonia.

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Além disso, o Eye Doctor II software de análise também permite emulação de canal. Para testes PCIe, um engenheiro de projeto executará sua medição de dados seriais na saída do transmissor. No entanto, a análise no lado distante de um canal de dados seriais de referência é muito útil para problemas de depuração. Para fazer isso, eles podem usar um canal físico para fazer sua medição após o canal ou podem usar emulação de canal para ver como seria seu sinal de dados seriais se tivesse sido transmitido pelo canal.

 

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Cobertura de teste QPHY-PCIe

Teste de qualidade de sinal de 2.5 GT/s Intervalo médio da unidade
Intervalo unitário máximo
Intervalo mínimo da unidade
Tempo mínimo entre cruzamentos
Taxa de dados
Jitter RMS por borda
Mediana média para Jitter de pico
Max Median para Pico Jitter
Min Mediana para Peak Jitter
Jitter médio de pico a pico
Tremulação máxima de pico a pico
Tremulação mínima de pico a pico
Tensão ocular mínima de transição (sem transição)
Tensão ocular máxima de transição (sem transição)
Margem de Tensão Ocular de Transição Mínima (Sem Transição) Acima do Olho
Máxima Transição (Sem Transição) Margem de Tensão Ocular Abaixo do Olho
Teste de qualidade de sinal de 5.0 GT/s Intervalo médio da unidade
Tempo mínimo entre cruzamentos
Taxa de dados
Tremulação máxima de pico a pico
Jitter total em BER de 10e-12
Jitter Determinístico Delta-Delta
Jitter aleatório (RMS)
Tensão ocular mínima de transição (sem transição)
Tensão ocular máxima de transição (sem transição)
Margem de Tensão Ocular de Transição Mínima (Sem Transição) Acima do Olho
Margem mínima de tensão ocular de transição (sem transição) abaixo do olho
Violações da máscara Olho de transição (sem transição)
 
Osciloscópios recomendados (para testes de 5.0 GT/s)
13–16 GHz, 40 GS/s, 4 canais, 20 MptsAnalisador de dados seriais /Ch com display colorido WXGA de 15.3". Entrada de 50 Ω e 1 MΩ*WaveMaster 813Zi, 816Zi
20, 25, 30 GHz, 80 GS/s, 2 canais, 40 Mpts/Ch Analisador de dados serial com display colorido WXGA de 15.3". Entrada de 50 Ω e 1 MΩ (16 GHz, 40 GS/s, 4 canais, 20 Mpts/CH)*WaveMaster 820Zi, 825Zi, 830Zi (osciloscópios SDA e DDA 8 Zi também são suportados)
 
Osciloscópio recomendado (para teste de 2.5 GT/s)
6 GHz, 20 GS/s, 4 capítulos, 10 Mpts/Ch (40 GS/s e 20 Mpts/Ch em modo intercalado) com entrada de 50 Ω e 1 MΩ*WavePro 760Zi (osciloscópios SDA e DDA 7 Zi também são suportados)
 
Equipamento necessário não disponível na Teledyne LeCroy
Placa base de conformidade com PCI-SIG (somente para teste de placa suplementar 5.0GT/s) BC2
Placa de carga de conformidade com PCI-SIG (somente para teste de sistema de 5.0GT/s x4 ou x 8 pistas)  x4/x8CLB2
Placa de carga compatível com PCI-SIG (somente para teste de sistema de 5.0GT/s x1 ou x 16 pistas) x1/x16CLB2
Placa base de conformidade com PCI-SIG (somente para teste de placa suplementar de 2.5 GT/s) BC1  
Placa de carga compatível com PCI-SIG (somente para teste de sistema 2.5GT/s)CLB1
Terminadores SMA ou SMP para cada conector SMA não utilizado no CBB ou CLB